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1、激光衍射法：主要測定微米級(jí)顆粒。激光衍射法的結(jié)果計(jì)算可以在體積分布、面積分布，或數(shù)量分布的基礎(chǔ)上顯示。注意：粒度分布計(jì)算至少需要知道樣品的相對折射率和光吸收率以及非球形因子等參數(shù)，否則就會(huì)造成較大偏差，而得到這些參數(shù)對混合粉體顆粒是幾乎不可能的。這種方法是目前流行的方法，但它對少量大顆粒不敏感，并且只適用于球形或類球形顆粒。

2、動(dòng)態(tài)光散射法適用于納米級(jí)顆粒的測定。動(dòng)態(tài)光散射（DLS）的主要結(jié)果是強(qiáng)度分布平均值（稱為 Z 平均）和描述分布寬度的多分散指數(shù)（PDI）,其得到的粒徑稱為水合動(dòng)力學(xué)直徑（或水力直徑）。如果已知樣品的折射率，強(qiáng)度分布可以轉(zhuǎn)換成體積分布。光散射電泳法可測量 zeta 電位。

3、超聲衰減法基于體積分布的 超聲法粒度及 zeta 電位分析儀, 可覆蓋納米區(qū)域和微米區(qū)域的測量。其聲譜模型假設(shè)的結(jié)果是一個(gè)或兩個(gè)峰的正態(tài)分布。假設(shè)正態(tài)分布時(shí)，可以完整地描述結(jié)果的平均值和標(biāo)準(zhǔn)差，這是系統(tǒng)報(bào)告結(jié)果的一個(gè)常用方法。因?yàn)榱６确植加?jì)算需要知道樣品的聲學(xué)參數(shù)，在這些參數(shù)不時(shí)，很難與激光衍射法計(jì)算的結(jié)果對應(yīng)。但如果兩種方法各自需要的計(jì)算參數(shù)已知，則兩種技術(shù)的分析結(jié)果可以相符。

4、圖像分析法主要覆蓋微米到厘米區(qū)域的粒度測定。圖像分析的初級(jí)結(jié)果是建立在數(shù)量分布基礎(chǔ)上的，然后轉(zhuǎn)換成體積分布。這是*的有效轉(zhuǎn)換。圖像分析比任何其他技術(shù)和選項(xiàng)能提供多得多的數(shù)據(jù)值，它可以測量每個(gè)顆粒的粒徑，使用戶計(jì)算和報(bào)告粒度結(jié)果具有的靈活性。圖像分析儀器可報(bào)告顆粒的長度分布，也可以建立基于顆粒形狀（不是球形）的體積分布。能有多少方法測量顆粒大小圖像法 zeta 電位分析儀是 zeta 電位分析的基準(zhǔn)儀器。